PSM-1000工业显微镜是一款高性能一体化工业检测设备，专为冶金、半导体、电子等制造与科研领域设计，以优异的成像质量、灵活的功能扩展及可靠的操作性能满足精密测量与分析需求。

核心光学系统

• 物镜配置：搭载长工作距离无应力平场复消色差（APO）物镜，支持激光优化波长（355nm/532nm/1064nm），提供高分辨率、低色差成像。

• 管镜转盘：集成1XNUV（优化355nm/532nm）、1XNIR（优化532nm/1064nm）及2X管镜，可快速切换，显著提升激光透过率。

• 转换器：4孔可调中物镜转换器，配备调中钥匙，精准对齐物镜光轴，确保成像一致性。

智能化功能模块

• 光路切换：推拉式光路转换拉杆支持两种分光模式——0:100（激光全输入光路）和50:50（观察与摄像同步），适配CCD摄像头或激光器应用。

• 偏光系统：标配偏光插孔，可选配起偏/检偏附件，轻松实现材料应力与晶体结构分析。

• 激光兼容性：配备激光安全定位销、滤色片插槽及补偿垫片，兼容外置激光器接入，安全便捷。

• 调焦机构：高负载调焦系统最大承重达20.4Kg（45磅），适配激光器或重型摄像头的稳定操作。

成像与扩展支持

• 数码摄像系统：支持多规格CCD摄像机，可选0.4X/0.5X/1X摄像接筒，实现电脑或显示屏同步高清成像。

• 照明系统：外置冷光源搭配2米长光纤，选配遥控器，为复杂检测场景提供灵活照明解决方案。

• 探测工作站：主体可集成至工作站，支持硅片测试等大尺寸工业样品分析。

软件与分析能力

• Motic Quality Pro 1.0：专业工业测量软件，支持动态视频流与静态图像分析，单视场/多视场模式自由切换，测量精度达2微米。

• 功能覆盖：几何元素采集（点、线、圆等）、形位公差分析、数据导出（DOC/XLS/DXF等）、图像增强（平滑/锐化/伽马校正）及多语言支持。

• 校正系统：四圆算法支持有光栅/无光栅校正，满足多样化测量平台需求。

可靠性与兼容性

• 标配扩展：包含MLC-150C冷光源、基础目镜（10X/15X/20X）及标准摄像接口。

• 安全设计：通过激光安全滤色片与结构优化，确保高风险实验环境下的操作安全。