LAMBDA 750/850+/1050+ 紫外-可见-近红外分光光度计
型号：LAMBDA 750 / 850+ / 1050+面向光学性能测试的高端平台：1050+ 覆盖 175 – 3300 nm，双光束配双单色器，杂散光低至 0.00007 %T，线性范围 8 A，高浓度样品免稀释。PMT 与 Peltier 冷却 PbS 双检测器覆盖全谱段，大样品仓可装 100 / 150 mm 积分球与可变角反射附件，滤光片、镀膜、玻璃、光伏薄膜的透过率与反射率一站测完。
核心参数
| 波长范围 | 175 – 3300 nm（1050+）；175 – 900 nm（850+） |
|---|---|
| 分辨率 | UV/Vis 优于 0.05 nm，NIR 优于 0.2 nm |
| 波长精度 | UV/Vis ±0.08 nm，NIR ±0.3 nm |
| 波长重复性 | UV/Vis 优于 0.005 nm，NIR 优于 0.02 nm |
| 光学系统 | 双光束、双单色器，全息刻线光栅 |
| 检测器 | 光电倍增管（PMT）+ Peltier 冷却 PbS |
| 杂散光 | 0.00007 %T（220 / 340 / 370 nm，ASTM E-387） |
| 线性范围 | 8 A |
| 光谱带宽 | UV/Vis 0.01 – 5 nm 连续可调；NIR 0.04 – 20 nm |
| 光源 | 预校准氘灯（UV）+ 碘钨灯（Vis/NIR），软件自动切换 |
| 采样附件 | 100 / 150 mm 积分球、万能反射附件、可变角透射 / 镜面反射 |
| 软件 | UV WinLab，支持 21 CFR Part 11 |
产品特点
- 175 – 3300 nm 一台覆盖紫外、可见到近红外，宽波段样品不必换机
- 双光束配双单色器，杂散光低至 0.00007 %T，高吸光度样品同样测得准
- 线性范围 8 A，浓溶液直接上机，省去稀释带来的误差与工时
- PMT 与 Peltier 冷却 PbS 双检测器，紫外可见与近红外全程保持高信噪比
- UV/Vis 带宽 0.01 nm 起连续可调，窄吸收峰与高能量弱信号兼顾
- 大样品仓可装 100 / 150 mm 积分球与万能反射附件，固体、薄膜、粉末直接测
- 可变角透射与镜面反射（0 – 90°，步进 0.01°），光学元件一次装夹完成多角度扫描
- 专为光学性能测试设计：透光率、反射率、带隙、雾度，覆盖光伏、显示与镀膜行业
适用场景
- 光学元件与镀膜：滤光片、镜片、镀膜玻璃的透过率与反射率曲线
- 光伏与半导体：薄膜带隙测定、减反射膜评估、晶圆镀层分析
- 显示与建筑玻璃：色度、雾度、可见光透过率、低辐射镀膜
- 先进材料：薄膜、粉末、纳米材料的吸收光谱与漫反射测试
- 计量与质检：标准滤光片、比色皿、光学量具的校准与检定
- 高校科研：材料、化学、物理专业的光学性能表征平台