Spotlight Aurora 傅里叶变换红外显微镜
型号：Spotlight Aurora高分辨与宽场双光学成像的红外显微镜，900 μm × 900 μm 高清成像配 10 mm × 10 mm 宽场，先看全景再测微区。Z-STACK 扩展景深让粗糙曲面样品免制备直接测谱，实时颗粒识别与谱库匹配把污染物鉴定从数小时压到几分钟。红外与可见光共轴，磁吸式显微 ATR 所见即所得。
核心参数
| 光谱范围 | 7800 – 600 cm⁻¹ |
|---|---|
| 红外成像 | 900 μm × 900 μm 高清成像 + 10 mm × 10 mm 宽场成像 |
| 空间分辨率 | 优于 7 μm |
| 信噪比 | 优于 35000:1（点模式，4 cm⁻¹，2 分钟，MCT） |
| 光学成像 | 双 500 万像素摄像头，高清 / 宽场双系统 |
| 检测器 | MCT，检测面积 ≥ 80 × 80 μm；可选液氮 MCT / 室温 TE-MCT |
| 检测器扩展 | 机内可装 3 个检测器，电动光束切换与自动参数设置 |
| 采样方式 | 透射、反射、显微 ATR（磁吸式，红外与可见光共轴） |
| 载物台 | 往复式自动载物台，最大样品厚度 60 mm |
| 景深技术 | Z-STACK 高清聚焦扩展景深，支持曲面样品三维重构 |
| 系统架构 | 分体式模块化，可与 Spectrum 系列红外主机联用 |
产品特点
- 载物台最大承载 60 mm 厚度，电路板、异形器件、厚切片无需制样直接上机
- 900 μm × 900 μm 高清 + 10 mm × 10 mm 宽场双光学成像，大视场先定位、再切到微区测谱
- Z-STACK 扩展景深与自动深度调谐，粗糙曲面自动多点对焦，输出三维形貌与景深数据
- 实时自动化颗粒识别与谱库匹配，污染物从发现到定性一次完成，自动统计尺寸与数量
- 磁吸式显微 ATR 与红外可见光共轴光路，所见即所得，探头免工具拆装清洁
- 空间分辨率优于 7 μm，微区化学成像可分辨微米级组分差异
- 机内 3 个检测器电动切换，痕量分析用液氮 MCT、日常筛查用室温 TE-MCT
- 分体式模块化架构，可配 Spectrum 系列红外主机，后续可升级近红外成像
适用场景
- 环境与微塑料：滤膜颗粒自动计数、种类鉴定与化学成像
- 制药：片剂真伪鉴别、原辅料分布、微量杂质与异物分析
- 材料：多层膜、涂层截面、聚合物共混与缺陷的微区表征
- 半导体与电子：晶圆、电路板污染物与残留物鉴定
- 法医与文检：油漆切片、纤维、毒品、爆炸物、纸张油墨
- 生命科学：组织切片中脂质、蛋白质分布与骨组织矿化研究