超景深三维显微系统技术参数
一、光学系统与放大范围
• 电动光学变焦镜头，变焦范围 0.35X–5.0X（参考值，按机型）
• 光学放大 20X–2000X 连续可调，配合数码放大可扩展显示倍率
• 大景深光学设计，单次成像景深为常规显微镜的数倍
• 光学放大与数码放大需分别标注，显示倍率不等于光学倍率
二、景深合成（核心功能）
• Z 轴电动步进扫描，逐层采集后合成全清晰图像
• Z 轴行程 ≥ 30 mm（长行程机型可达 100 mm）
• 单次合成层数可设，常见 20–200 层
• 合成算法支持"全清晰图""三维形貌重建""高度图"三种输出
• 说明：景深合成是超景深系统的核心价值，不是简单把画面放大
三、分辨率与像素
• 相机像素 ≥ 500 万，主流 1200 万–2000 万
• 传感器靶面 ≥ 1/1.8″，靶面越大单像素进光越多
• 最高光学分辨率 ≤ 1 μm（按机型与物镜）
• 像素分辨率随变焦变化，需在软件中标定
四、XYZ 行程与载物台
• 电动 X/Y 载物台，行程 ≥ 50 × 50 mm，可拼接大视野
• Z 轴电动，步进精度 ≤ 1 μm
• 台面承重 ≥ 3 kg，可放样件、电路板、工件
• 支持多视野拼接（Mosaic），合成超大面积图像
五、测量功能
• 二维测量：距离、角度、半径、面积、平行度
• 三维测量：高度差、体积、粗糙度（Ra/Rz）、平面度
• 测量前需用标准量块标定，标定精度决定测量可信度
• 可导出测量报告（含图像、数据表、判定结果）
六、照明
• 多角度环形照明，可分段点亮，突出表面起伏与划痕
• 同轴照明，用于镜面与高反光样品
• 斜射照明，用于观察边缘、毛刺、凹陷
• 透射照明（选配），用于透明样品
• 亮度与角度可软件控制，支持不同照明条件下比对
七、软件与数据
• 实时景深合成、三维显示、旋转观察
• 支持批量测量与模板化检测流程
• 图像格式：JPEG / TIFF / BMP，三维数据可导出通用格式
• 支持报告模板自定义，可加企业标识
八、使用环境
• 电源 AC 220 V ± 10%，50 Hz
• 工作温度 5–40 ℃，相对湿度 ≤ 80%
• 建议配防振台，高倍与三维测量时振动影响明显
• 系统为精密光学加电动平台，需定期校准
九、采购时最容易出问题的三处
• 把"最大显示倍率"当光学倍率，实际光学只有几十倍，放大后一片马赛克
• Z 轴步进精度不足或平台重复定位差，三维高度测量误差超过 10%
• 未配标准量块或从不标定，测量数据无法追溯，报告不能作为判定依据
